锐达博客

电子工业厂房微振动测量方案

晶钻仪器为研究电子工业厂房主体结构的微振动特性,采用国际通用的1/3倍频程分析发对个测点速度、加速度时域数据进行处理,对比分析自由场地及厂房主体结构的微振动响应特性。分析该电子厂房内各测点微振动是否满足VC曲线标准。

双振动台推-推试验

双振动台系统通常用于测试长或重的被测试件(DUT)。当被测试件太长或太重时,单个振动台因被测试件尺寸过大或要求推力过大而无法进行试验。为此,设计了双振动台系统作为解决方案。用户可以将较大的尺寸或较重DUT水平或垂直安装在双振动台系统的顶部。